Система бесконтактных 2-х осевых измерений Kestrel Elite

Безокулярный измерительный микроскоп для прецизионных бесконтактных измерений и визуального контроля. Kestrel Elite — надежный, высокоточный измерительный прибор идеальный для использования в основном производстве, обеспечивает простые и точные измерения прецизионных деталей по 2-м осям.

• Высокоточная система для 2_осевых (X, Y) измерений, не требующая больших инвестиций
• Ход платформы рабочего стола 150×100 мм
• Диапазон увеличений: 10х, 20х (стандартная комплектация), 50x
• Обработка данных через многофункциональный микропроцессор
• Точность / повторяемость измерений: 2 / 4 мкм
• Возможность подключения цифровой и видео камер.

За высокую точность, производительность и комфортность удостоена Золотой медали и награждена Знаком качества Ростест-Москва по результатам IV Специализированной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования Метрология-2008 (Москва).

Прибор внесен в Госреестр средств измерений РФ.

Kestrel Elite — высокоточная система при небольших инвестициях, разработанная с целью улучшения Ваших измерительных и контрольных возможностей. При выполнении как разовых измерений отдельных компонентов, так и измерений сложных деталей, Kestrel Elite гарантирует высококонтрастные изображения с высоким разрешением и предлагает интуитивно понятный
интерфейс для обеспечения точности и простоты в самых широких областях применения.

В системе используется запатентованная технология оптического проецирования для получения высококонтрастного изображения с высоким разрешением. По сравнению с проекционными или видео системами, высококачественная оптическая система Kestrel Elite дает четкие и полноцветые изображения деталей со сложными для оптики цветами и структурой (металлы, пластмассы, керамика). Kestrel Elite позволяет быстро изменять увеличение путём установки требуемого объектива: 10x, 20x или 50x (20x в стандартной поставке). Оптическая схема с высокой эффективностью освещения реализуется с помощью бестеневого кольцевого осветителя. Нижняя подсветка включена в стандартную поставку. Точные измерения с быстрыми перемещениями достигаются благодаря устойчивой тяжелой платформе, позволяющей производить измерения на площади 150×100 мм с точностью платформы 2 мкм/10 мм. Представление результатов измерений по осям X, Y осуществляется в цифровой и графической формах. Результаты могут быть распечатаны на обычном принтере.