Оптический профилометр TopMap MicroView+ TMS-2400

TMS-2400 MicroView+ – это универсальная рабочая станция для применения на производственных участках контроля топографии поверхности.

Благодаря модульности позволяет использовать индивидуальные конфигурации и конфигурации для конкретных задач. Micro.View + обеспечивает наиболее подробный анализ шероховатости поверхности, текстуры и топографии микроструктуры с высоким разрешением. 5 Мп камера обеспечивает невероятно подробные визуализации данных.

Оптический профилометр TMS-2400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом с возможностью расширенного анализа на производственных участках. Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью.

Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок. С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения. 

Области применения: 

• Гладкие поверхности
• Машиностроение
• Материаловедение  
• Энергетика
• Криминалистика
• Контроль лазерной гравировки
• Микроэлектроника 
• Микромеханика
• Оптика
• Полупроводники
• Потребительская электроника
• Фотовольтика
• Дисплеи
• Электроника/микроэлектроника
• Прецизионное машиностроение 
• Биология и медицина