Оптический профилометр TopMap MicroView TMS-1400

TMS-1400 MicroView - это простой в использовании и компактный оптический профилометр. 

Сочетающий в себе исключительную производительность и мощное метрологическое программное обеспечение с дружелюбным интерфейсом. Диапазон измерения по оси Z = 100мм, разрешение на всем диапазоне менее 0,5нм, вне зависимости от объектива с технологией непрерывного сканирования CST.

Оптический профилометр TMS-1400 предназначен для характеризации топографии структур, микроструктур поверхности бесконтактным методом.

Позволяет проводить измерения на любых поверхностях с различной отражающей способностью. Контроль параметров: формы, волнистости, плоскостности, высоты ступенек, параллельности, измерение линейных размеров, параметров шероховатости, толщины плёнок.

С технологией экологической компенсации ETC позволяет использовать даже в шумных и сложных производственных условиях, обеспечивая надежные и точные измерения. 

Области применения: 

• Гладкие поверхности
• Машиностроение
• Материаловедение  
• Энергетика
• Криминалистика
• Контроль лазерной гравировки
• Микроэлектроника 
• Микромеханика
• Оптика
• Полупроводники
• Потребительская электроника
• Фотовольтика
• Дисплеи
• Электроника/микроэлектроника
• Прецизионное машиностроение 
• Биология и медицина