![]() |
Доставка в любую точку России и СНГ |
![]() |
Оплата наличным и безналичным способом |
![]() |
Доставка в течении недели |
![]() |
Гарантия 12 месяцев |
Leica DCM8 - конфокальный 3D профилометр Область применения: Метрология поверхности. Микроскоп Leica DCM8 предназначен для исследования топографии поверхности в конфокальном и интерферометрическом режимах с построением моделей и измерений на сканируемых поверхностях.
Наиболее часто используется для измерения шероховатостей и в микроэлектронике с разрешением по вертикали до 1 нм. Использование конфокальной технологии позволяет быстро и точно осуществлять профилометрию поверхностей сложной формы или с крутыми наклонами до 70° без порчи образца. Преимущественно используется с моторизованными осями X, Y, Z и антивибрационным столиком.
Высокоточный анализ поверхностей имеет большое значение в промышленности и науке в целях обеспечения оптимальных характеристик материалов и компонентов. Существуют однако, сложные аспекты: поверхности могут состоять из сложных структур с очень покатыми участками, что требует горизонтального разрешения в несколько микрон, или же резкие микроскопические пики и впадины, что требует разрешения по вертикали в субнанометровом диапазоне. И если высокое горизонтальное разрешение обеспечивается конфокальной микроскопией, для достижения требуемого разрешения по вертикали в субнанометровом диапазоне необходима интерферометрия.
Преимущества:
- Интерферометрия высокой четкости с оптимальным разрешением по вертикали до 0.1 нм;
- Три метода измерения толстых и тонких пленок;
- Четыре светодиода, позволяющие получать цветные изображения в палитре RGB: синий (460 нм), зеленый (530 нм), красный (630 нм) и белый (центральная длина волны 550 нм).
Общие характеристики:
- Принцип измерения: бесконтактная трехмерная двухъядерная оптическая профилометрия (конфокальная регистрация и интероферометрия).
Функции:
- Получение изображений с высоким разрешением, измерение рельефов с высоким разрешением в 3D, измерение профилей, координат, толщины, шероховатости, объема, поверхности, структура, спектральный анализ, колориметрия и т.п.
Режимы контрастирования:
- HD конфокальный;
- HD интерферометрия (PSI, ePSI, VSI);
- HD светлопольный цветной, светлопольный, темнопольный;
- конфокальный HD RGB в реальном времени.
Высота образца:
- 40 мм в стандартной конфигурации;
- до 150 мм с регулируемой колонкой;
- по требованию большая высота образца.
Объективы:
- от 1.25x до 150x с конфокальным, светлопольным и темнопольным режимами;
- от 5x до 50x в режиме интерферометрии.
Диапазон перемещения столика (XYZ):
- по вертикали: z = 40 мм;
- в поперечном направлении: xy = 100x75 мм (в стандартном исполнении) или до 300x300 мм;
- различные столики больших размеров.
Диапазон сканирования по вертикали:
- конфокальный режим: 40 мм;
- PSI: 20 мкм;
- ePSI: 100 мкм;
- VSI: 10 мм.
Подсветка: светодиодные источники света:
- красный: 630 нм;
- зеленый: 530 нм;
- синий: 460 нм;
- белый: центральная длина волны 550 нм.
Отражающая способность образца: 0.1-100 %. Размеры: (ДxШxВ) 573x390x569 мм. Масса: 48 кг.
Точность (увеличение 20 x): | С открытым контуром: относительная ошибка < |
Повторяемость (увеличение 50 x): | Конфокальный режим / VSI: точность = 0,003 мкм (3 нм) |
Виброизоляция: | Активная или пассивная |
Условия эксплуатации: | Температура: от 10° до 35° C |
Размеры и масса: | Д x Ш x В = 573 мм x 390 мм x 569 мм |
Отражающая способность образца: | 0,1-100% |