Allied MultiPrep™

Система MultiPrep ™ обеспечивает точную полуавтоматическую пробоподготовку широкого спектра материалов для микроскопического анализа (оптического, сканирующей электронной микроскопии - SEM, ионно-лучевой литографии - FIB, просвечивающей электронной микроскопии - TEM, атомно-силовой микроскопии - AFM, и т.д.) Возможности включают: параллельную полировку, полировку под углом или полировку характерной для данной пробы. Система обеспечивает хороший результат независимо от уровня пользователя.

Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску.

Цифровые показатели на фронтальной панели показывают количественное удаление материала. Также можно установить предварительные значения для работы, не требующей постоянного присмотра.

Различная скорость вращения и колебания максимизируют использование всего диска шлифовки/полировки и снижают до минимума нежелательные искажения. Регулируемая нагрузка дает возможность подготовки различного ряда образцов от маленьких (тонких) до больших. Приспосабливаемый контроль загрузки позволяет работать как с маленькими, так и с большими образцами.

Разработано и произведено в США

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

• Цифровые индикаторы позволяют удалять пробу из тигля, которые контролируется в реальном времени или задаются автоматически
• Шпиндель устанавливает образец перпендикулярно к диску и в тоже время может поворачиваться
• Двойной микрометр (крена и тангажа) позволяет точно скорректировать угол наклона образца по отношению к абразивному диску, угол наклона +10/-2,5°, точность 0.01°
• Задний цифровой индикатор отображает вертикальное положение с функцией обнуления, точность 1 мкм
• Автоматическое колебание регулируется 6-ю скоростями
• Система креплений устраняет необходимость дополнительных инструментов
• Полное или ограниченное автоматическое вращение с 8-ю скоростями
• Переменная типовая нагрузка, 0-600 г, с шагом 100г
• Переменная скорость пластины (тигля): 5-350 об/мин (шаг - 5 об/мин)
• Контроль с помощью сенсорных переключателей
• Двигатель 190 Вт
• Цифровой таймер и тахометр
• Вращение тигля по/против часовой стрелки
• Промывное устройство чаши для предотвращения наслоения грязи
• Электронный контроллер охлаждения с регулируемым клапаном
• Размеры:
  система 203 мм 381 x 660 x 508 мм (Ш/Г/В);
  система 305 мм 560 x 660 x 535 мм (Ш/Г/В);
• Масса:
  система 203 мм 57 кг;
  система 305 мм 75 кг;

КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 305 мм

КОМПЛЕКТАЦИЯ MultiPrep™, с диском 203 мм

КОМПЛЕКТУЮЩИЕ
MultiPrep™, с диском 305 мм

MultiPrep™, с диском 203 мм

Широкий ряд разнообразных комплектующих доступен для систем с дисками диаметром 203 или 305 мм. Крепление с помощью зажи- ма исключает использование инструментов. Изготовлены с высокой точностью из высококачественного алюминия (токопроводящего) или нержавеющей стали (коррозийно стойкой) с притертой , тепловой или поверхностной обработкой для максимальной производительности и надежности.

	№15-1005 Адаптер с зажимом
	№15-1013 Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии со вставкой из жаропрочного стекла
	№15-1010 Лопасть поперечного сечения
	№15-1010-RE Лопасть поперечного сечения с референсным углом
	№15-1014 Клин-лопасть для TEM, FIB микроскопии для утончения
	№15-1018 Крепление для подготовки к SIMS, TEM микроскопии
	№15-1020 Крепление параллельной полировки, 57 мм
	№15-1020-80 или №15-1020-100 Крепление параллельной полировки, 80 или 100 мм
	№15-1025 Держатель пробы, диаметр 38 мм
	№15-1035 Весовой набор
	№15-1045 Многоцелевое крепление образца, ширина 51 мм
	№15-1046 Многоцелевое диагональное крепление, ширина 51 мм
	№15-1047 Многоцелевое крепление образца, ширина 24 мм
	№15-1048 Многоцелевое диагональное крепление, ширина 24 мм
	№15-1050 Лопасть для поперечного сечения с зажимом
	№15-1051 Лопасть для поперечного сечения с зажимом диагональной ориентации
	№120-30015 Измерительная система с цифровым индикатором