TopMap μ.Lab Оптический профилометр TMS-1200

За счет большого пространственного разрешения измерительный микроскоп TMS-1200 TopMap μ.Lab задает новый уровень бесконтактного измерения топографии.

Оптический профилометр быстро определяет такие параметры, как текстура, плоскостность и шероховатость на мелких и хрупких структурах. Технология умного сканирования поверхности от компании Polytec значительно упрощает измерения на образцах с разной отражающей способностью.

Оптический профилометр с нанометровым разрешением

Измерительный микроскоп TopMap μ.Lab передает 3D-данные, определяет толщину пленок и обнаруживает мельчайшие дефекты по высотным профилям с нанометровым разрешением.

Высокое разрешение по оси z не зависит от выбранного увеличения объектива.

Вы можете выбрать один из специализированных объективов или заказать индивидуальную разработку, если требуется большее рабочее расстояние.

Технические характеристики:

• анализ микроструктур с великолепным латеральным разрешением;
• измерение 3D-топографии, плоскостности, шероховатости и текстуры;
• определение толщины пленки и обнаружение дефектов поверхности;
• специализированные объективы для компенсации толщины стекла и другие;
• режимы отображения в 2D и 3D с наложением видео изображения.

Оптический профилометр TopMap μ.Lab позволяет определять шероховатость или даже проводить измерения через стекло.