Производственное оборудование
Лабораторное оборудование
Лазерные станки и оборудование
Главная / Каталог / Техническая микроскопия / УФ микроскоп Leica DM 8000 / DM 12000

УФ микроскоп Leica DM 8000 / DM 12000

Категории
Прямые ультрафиолетовые микроскопы Leica DM8000 и DM12000 предназначены для контроля качества полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Поделитесь в соц.цетях:
Доставка в любую точку России и СНГ
Оплата наличным и безналичным способом
Доставка в течении недели
Гарантия 12 месяцев
Описание
Характеристики
Комплектация
Расходные материалы
Документы
Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.
Описание: 

Прямой ультрафиолетовый микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.

Данный микроскоп позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.

 

Общие технические характеристики микроскопа:

 

  • Образцы размером до 8” / 200 мм или до 12” / 300 мм;
  • Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение  UV и  OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК;
  • Светодиодное освещение, интегрированное в микроскоп поддерживает все режимы контрастирования с постоянной цветовой температурой и работает до 20 000 часов;
  • Возможность работы в проходящем и отраженном свете;
  • Моторизированная или ручная система фокусировки;
  • Увеличение от 7х до 1500х, опционально до 3000х;
  • Работа в макро режиме при помощи объектива 0.7х, апертурой 0.02, рабочей дистанцией 7.2мм, диаметром 32мм.
  • Набор полуапохроматических и апохроматических объективов (0.7х, 10х, 20х, 50х, 100х, 150x);
  • Инспекционный ручной стол размером 8” с ходом 202х202мм, с возможностью вращения столика для выравнивания пластин или моторизованный инспекционный стол размером 8” с ходом 202х202мм, разрешением по XY 0,01 мкм, скорость хода 240мм в секунду, воспроизводимость < 1 мкм;
  • Инспекционный ручной стол размером 12” с ходом 302х302мм, с возможностью вращения столика для выравнивания пластин или моторизованный инспекционный стол размером 12” с ходом 302х302мм, разрешением по XY 0,01 мкм, скорость хода 240мм в секунду, воспроизводимость < 1 мкм;
  • Держатели пластин на 6-8” или 8-12” с возможность установки вакуума и держателя маски;
  •  Программное обеспечение  позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса и просматривать полученные изображения. В базовом наборе рекомендуем приобретать модуль для линейных измерений, модуль для автофокуса и модуль для получения панорамных изображений по XY.

 

Для решения рутинных задач предлагаем рассмотреть инспекционный микроскоп Leica DM3 XL для наблюдения в отраженном свете. Позволяет проводить исследования полупроводниковых пластин диаметром до 150 мм.

В изучении топографии поверхности и контроля качества поверхности с разрешением 0.4 мкм поможет новейший цифровой микроскоп Leica DVM6.

 

Описания нет
Описания нет
Описания нет
Описания нет
Похожее оборудование:
Автоматическое измерение и составление отчета стальной арматуры, ребер жесткости арматуры, стальных сеток, прутков и
Запросить цену
Комплект для дооснащения ручного оптического микроскопа до моторизированного микроскопа по всем 3 осям (
Запросить цену
3D измерительный микроскоп для контроля профиля поверхности
Запросить цену
Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Купить в 1 клик
УФ микроскоп Leica DM 8000 / DM 12000