Производственное оборудование
Лабораторное оборудование
Лазерные станки и оборудование

NIOS Compact

Категории
Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Поделитесь в соц.цетях:
Доставка в любую точку России и СНГ
Оплата наличным и безналичным способом
Доставка в течении недели
Гарантия 12 месяцев
Описание
Характеристики
Комплектация
Расходные материалы
Документы
Для просмотра таблицы осуществляйте горизонтальную прокрутку.
Описание: 

Настольный прибор для исследования рельефа и механических свойств небольших образцов комплексом методов сканирующей зондовой микроскопии, инструментального индентирования и склерометрии в диапазоне нагрузок до 50 мН. На основе данной модели разработан курс лабораторных и методических работ по изучению основ выполнения измерений физико-механических свойств на сумбикрометровом и нанометровом масштабе линейных размеров.

В основе приборов семейства NIOS заложен модульный принцип построения измерительной системы. Конечная конфигурация прибора подбирается индивидуально в соответствии с требованиями и особенностями каждого конкретного пользователя. При формировании измерительной платформы используется целый ряд модулей и дополнительных датчиков, в том числе:

  • модуль индентирования;
  • модуль оптического микроскопа;
  • модуль атомно-силового микроскопа;
  • универсальный модуль нано-механических испытаний;
  • модуль измерения электрических свойств;
  • датчик боковой нагрузки;
  • узел in-situ сканирования;
  • нагревательный предметный столик.

Режимы измерений и измерительные методики

Механические свойства:

  • инструментальное индентирование в соответствии с рекомендациями ГОСТ Р 8.748-2011 и ISO 14577;
  • измерение микротвердости по ГОСТ 9450-76 и твердости по Виккерсу по ГОСТ 2999-75;
  • склерометрия (измерение твердости царапанием) с постоянной или переменной нагрузкой;
  • силовая спектроскопия;
  • механическая нанолитография;
  • измерение жесткости балок и мембран;
  • построение зависимостей твердости и модуля упругости от глубины внедрения индентора;
  • автоматизированное построение двумерных и трехмерных карт распределения твердости и модуля упругости по поверхности в поле до 100×100 мм;
  • проведение измерений адгезии методом прилипанияскольжения;
  • измерения в жидкой среде.

Нанотрибология:

  • циклическое истирание поверхности при поддержании заданной нагрузки;
  • проведение нано-трибологических испытаний в присутствии смазки на исследуемой поверхности.

Оптическая микроскопия:

  • выбор области для наномеханических испытаний;
  • измерение размеров объектов и высокоточное позиционирование.

Режимы in-situ сканирования:

  • измерение профилограммы поверхности на линейной базе до 15 мм;
  • полуконтактное динамическое сканирование рельефа алмазным индентором.

Локальные электрические свойства:

  • измерение ВАХ при контролируемой нагрузке или глубине внедрения индентора;
  • измерение тока растекания при наномеханических испытаниях.

Атомно-силовая микроскопия:

  • атомно-силовая контактная микроскопия (AFM);
  • атомно-силовая микроскопия в режиме прерывистого контакта (VAFM);
  • сканирующая туннельная микроскопия (STM);
  • атомно-силовая микроскопия высоких магнитных полей образца (M-AFM);
  • атомно-силовая микроскопия электропроводности и электрических потенциалов образца (EAFM);
  • атомно-силовая микроскопия упругих свойств образца (FM-AFM);
  • атомно-силовая микроскопия трения на поверхности образца (LF-AFM);
  • атомно-силовая микроскопия вязкости образца (V-AFM);
  • атомно-силовая микроскопия адгезионных свойств образца (AD-AFM);
  • литография в режиме атомно-силовой микроскопии (AFM-LIT);
  • измерение твердости по изображению восстановленного отпечатка;
  • расчет расширенного набора параметров шероховатости по двумерным и трехмерным изображениям рельефа поверхности в соответствии с рекомендациями международных стандартов ISO 3274, ISO 4287, ISO 13565 и ISO 16610.

Измеряемые характеристики:

  • микротвердость;
  • нанотвердость;
  • модуль упругости (Юнга);
  • тангенс угла механических потерь;
  • степень упругого восстановления;
  • адгезия;
  • толщина покрытий;
  • поверхностная карта механических свойств;
  • зависимость механических свойств от глубины;
  • томограмма механических свойств;
  • жесткость и перемещение микроконструкций;
  • трещиностойкость;
  • износостойкость;
  • линейная интенсивность износа;
  • коэффициент трения;
  • боковая нагрузка при царапании;
  • рельеф поверхности;
  • параметры шероховатости;
  • вольт-амперные характеристики области контакта;
  • удельное электрическое сопротивление.

Области применения

Уникальные возможности приборов семейства NIOS позволяют применять их как в традиционных для нанотвердомеров и СЗМ приложениях, так и в областях недоступных для таких приборов. Сканирующие нанотвердомеры NIOS применяются для исследований механических и электрических свойств, а также измерения линейных размеров и контроля качества поверхностей по следующим направлениям.

Материаловедение: научные исследования и инженерные приложения:

  • нанофазные и композитные материалы;
  • ультрадисперсные твердые сплавы;
  • новые твердые и сверхтвердые материалы;
  • конструкционные наноматериалы: сплавы, композиты, керамики;
  • тонкие пленки и покрытия;
  • углеродные наноматериалы и волокна.

Промышленность: автомобилестроение, авиастроение и космос, станкостроение:

  • новые конструкционные и функциональные наноматериалы;
  • покрытия для защиты и снижения износа деталей;
  • покрытия на режущем инструменте;
  • контроль свойств твердосплавного инструмента;
  • алмазы и алмазные порошки.

Энергетика:

  • наноструктурированные материалы для ядерной энергетики;
  • покрытия для турбинных лопаток.

Метрология:

  • измерение линейных размеров в нанометровом диапазоне с помощью трехкоординатного лазерного интерферометра.

Приборостроение:

  • новые полупроводниковые материалы;
  • оптические компоненты;
  • микро- и наноэлектромеханические системы (МЭМС и НЭМС);
  • микроканальные пластины для приборов ночного видения;
  • устройства хранения информации;
  • нанолитография.

Строительство, инфраструктура:

  • защитные покрытия для изделий из пластика;
  • декоративные и функциональные покрытия стекол и металлов.

Медицина:

  • стоматология;
  • импланты из наноструктурированных материалов;
  • биологически активные покрытия;
  • стенты.

Образование:

  • курс лабораторных работ по наноиндентированию и зондовой микроскопии.
Описания нет
Описания нет
Описания нет
Описания нет
Похожее оборудование:
Машины испытательные универсальные AlfaTest X Компания TWN Technology является производителем электромеханических и
680 000 руб.
Назначение AlfaTest – машины для статических испытаний на растяжение, сжатие и изгиб предназначенные для измерений силы
1 997 220 руб.
Машины испытательные универсальные AlfaTest X Компания TWN Technology является производителем электромеханических и
956 850 руб.
Запросить цену на товар
Заполнить опросный лист
Я не робот
Купить в 1 клик
NIOS Compact
Я не робот